반응형 서명분석기1 마이크로칩의 테스트 및 검증 마이크로칩의 테스트 및 검증 : 내장 자체 테스트(BIST) 및 테스트용 설계(DFT) 기술 마이크로칩 테스트 및 검증은 집적 회로(IC)의 기능, 신뢰성 및 품질을 보장하기 위한 반도체 산업의 필수 프로세스입니다. 마이크로칩 설계가 점점 더 복잡해지고 복잡해짐에 따라 기존 테스트 방법으로는 결함을 효과적으로 감지하는 데 충분하지 않을 수 있습니다. BIST(Built-in Self-Test) 및 DFT(Design for Test) 기술은 테스트 효율성과 적용 범위를 향상하는 데 필수적인 기술로 등장합니다. 이 에세이는 마이크로칩 테스트 및 검증에서 BIST 및 DFT의 원리, 장점, 과제 및 적용을 탐구합니다. 내장 자체 테스트(BIST): BIST(내장 자체 테스트)는 테스트 회로를 마이크로칩 설계.. 2024. 2. 21. 이전 1 다음 반응형